MIY-II型互感器校驗儀檢定裝置

1 、用途

MIY-II型互感器校驗儀檢定裝置是一種輸出標準電流和電壓比值的電磁式標準儀器，裝置滿足規(guī)程《互感器校驗儀JJG169》檢定要求，該裝置由互感器、標準電阻、標準電容等標準件，加上相應的電源而組成的標準比值電源，可以輸出電流對電流ΔI/I、電壓對電壓ΔU/U、電壓對電流ΔU/I 和電流對電壓ΔI/U等標準比值，專門用來檢定各種1-3級互感器校驗儀（HEG型和數顯校驗儀等）。還可用來檢定二次壓降測試儀。

采用此檢定標準檢定互感器校驗儀，按標準和被檢基本相同的標志，一次接好線后即可進行檢定。標準和被檢二者讀數應相同，不同部分就是誤差。檢定比較儀式校驗儀等校驗儀，只要一次平衡，而檢定數顯校驗儀，則無需平衡就可直接讀數。儀器具有穩(wěn)定性好，讀數直觀，檢定時間短，使用方便等優(yōu)點。與BHE型相比，主要增加了百分表指示線路，以前需要打4個開關[Ko為ε_I（電流互感器誤差）、K為I（工作電流）、Kd為ΔI（小電流）、Kc為ε（誤差）］現(xiàn)在只需打一個開關［Ko為ε_I（電流互感器誤差）］就可以檢定互感器校驗儀、增大了內附升流器容量，使電流回路正交部分能夠升到5A，將電源改為內置式，不必再外接調壓器，方便用戶操作等。

2 、規(guī)格

準確等級     0.2    級

額定頻率      50          Hz     額定電流 5 、1 、0.5 A

額定電壓100、100/√3、100/3V     輸入電壓  220      V

檢定標準輸出標準比值的讀數范圍如下表所示。

表中擴大量限部分只列出有用的第一盤的讀數。

同相分量和正交分量均由3個10進位盤組成，其讀數均為0.01～10，測互感器誤差時的讀數單位：同相分量為（%），正交分量為（5'）；測阻抗為（0.1Ω）；測導納為（0.1mS）。

檢定標準的面板標志與一般互感器校驗儀相同，即工作電流回路To、Tx，工作電壓回路a、x，小電流或小電壓回路K、D；此外還有擴大量限用的工作電流T₁₀、T x和工作電壓a₁₀、x回路，用此回路可使儀器輸出的標準比值讀數×10，用來檢定校驗儀測誤差線路的10%的量限。

檢定標準面板上還有L、Lx和A、X端鈕，是用來直接輸出電流和電壓，在檢定儀器本身時使用；不輸出電流時，L和Lx通過聯(lián)接片短接。

檢定標準的工作電流To、Tx和工作電壓a、x輸出的容量，分別為3VA和0.2VA，適合于檢定各種HEG型比較儀式互感器校驗儀和 HEW型數顯互感器校驗儀。 如校驗儀的工作電流或工作電壓回路容量超過上述數值，則應改由L、Lx和A、X輸出。

檢定標準為了檢定差流回路內阻為5Ω 的校驗儀（大部分數顯校驗儀的0.1％量限），設置了一補償線路，通過開關進行選擇，以補償內阻帶來的測量誤差。

檢定標準還有檢測校驗儀靈敏度的功能。為此專門設計了小比值線路，使儀器輸出的標準比值讀數×0.01，即可輸出0.0001%～0.001%和0.0005'～0.005', 用來檢定校驗儀的靈敏度。

檢定標準的外形尺寸：610×430×210mm。重量：約25kg。

3、工作原理

檢定標準由12個電磁標準件經4個開關44個轉換觸點組合而成，4個選擇開關分別為：工作回路選擇開關Ko，選擇ΔI/I＝εi、ΔU/U＝εu、ΔU/I＝Z或ΔI/U＝Y回路；工作電流電壓選擇開關K，選擇工作電流I或工作電壓 U；靈敏度選擇開關Km，選擇“ε"正常讀數和“0.01ε"讀數×0.01；以及補償開關Kb，選擇不補償“B"和補償“W"。12個電磁標準件中，同相分流分壓器Fx、正交分流分壓器Fy和電容C都是4回路共用的。

由于儀器面板標志與一般互感器校驗儀（HEG型）相同， 因此檢定校驗儀時，只要一次將相應標志的端鈕對接即可，如圖1所示。圖1是檢定互感器校驗儀的總線路。圖中BHE為檢定標準，HE為被檢校驗儀，標準的Tx、To，a、x和K、D回路均未接地，被檢的Tx、x和D均應接地。BHE的百分表由開關K選擇，相應為5A、1A和100V、100/√3V。右上側鈕子開關用于改變輸出電流，只有測電流互感器相位差時ON，其余均OFF；右下側為調壓器旋盤，調節(jié)輸出電壓和電流。通過標準和被檢的選擇開關和同相盤及正交盤，選擇相應的檢定回路和檢定示值。

3.1 檢定校驗儀測電流互感器誤差（ΔI/I）回路

檢定標準的開關位置：Ko為ε_I（電流互感器誤差）、K為5A或1A（工作電流）、Km為ε（讀數×1）、Kb為B（不補償）。檢定線路如圖2所示。

檢定時，將標準的同相盤和正交盤分別置于校驗儀需要檢定的數值。依次檢定校驗儀的0.1%、1%和10%量限的同相分量和正交分量。

檢定同相盤時，開關處于OFF位置，檢定正交盤時，開關ON，均可在1%～200%額定工作電流下進行檢定。工作電流由電流百分表讀數。

當被撿校驗儀的差流回路內阻R＝5Ω（一般數顯校驗儀的0.1％量限）時，將給檢定標準帶來相位差誤差。應將檢定標準的補償開關Kb改置于“W"，輸出相應的補償量加以補償。

當正交分量要檢定55'～500'時，將標準To改接在T₁₀端鈕，即標準的工作電流通過5/0.5A電流互感器輸入被檢校驗儀，這時BHE的百分表讀數不變，校驗儀的工作電流為標準的1/10，因而其讀數增大至10倍，相當于標準讀數盤的讀數×10，這時正交盤第一盤的讀數為50～500'（同相盤的讀數也×10）。

當檢定校驗儀的工作電流不超過0.5A時，例如5%～1%(5A)或50%～5%(1A)， 最好采用上述擴大×10量限，這時儀器的工作電流大，準確度高。

當檢定校驗儀的零位誤差時，儀器讀數盤置于0位， 被檢校驗儀的讀數就是其零位誤差。應該說明的是：檢定測電流互感器誤差回路的零位誤差時，不能簡單地切斷被檢校驗儀小電流的輸入回路，因為這樣數顯校驗儀可能不工作，而應該在端鈕間接上高阻抗，才符合校驗儀的實際工作狀態(tài)。

當檢定校驗儀的靈敏度時，將靈敏度開關Km由“ε"改置于“0.01ε"，檢定標準最小盤依次給出標準比值（1、2、3...）×0.0001%或（1、2、3...）×0.0005'時，校驗儀應有相同的讀數，據此可檢定校驗儀的靈敏度。

3.2 檢定校驗儀測電壓互感器誤差（ΔU/U）回路

檢定標準BHE的開關位置：Ko為ε_U（電壓互感器誤差）、K為100V或100/√3V（工作電壓）、Km為ε（讀數×1）、Kb為B（不補償）。

檢定時，標準的同相盤和正交盤分別置于校驗儀需要檢定的數值。依次在20%～120%額定工作電壓下，檢定校驗儀的0.1%、1%和10%量限的同相分量和正交分量，工作電壓由電壓百分表讀數。檢定線路如圖3所示。

當正交分量要檢定55'～500'時，將標準a改接在a10端鈕， 即標準的工作電壓通過100/10V電壓互感器輸入被檢校驗儀，這時BHE的百分表讀數不變，校驗儀的工作電壓為標準的1/10， 因而其讀數增大至10倍，相當于標準讀數盤的讀數×10，這時正交盤第一盤的讀數為50～500'。

當檢定校驗儀的零位誤差時，檢定標準的讀數盤置于0位，被檢校驗儀的讀數就是其零位誤差。同樣，檢定測電壓互感器誤差回路的零位誤差時，不能簡單地切斷被檢校驗儀小電壓的輸入回路，因為這樣數顯校驗儀可能不工作；而應該將K和D兩端鈕短路，才符合校驗儀的實際工作狀態(tài)。

當檢定校驗儀的靈敏度時，同樣將靈敏度開關Km改置于“0.01ε"，檢定標準最小盤依次給出標準比值（1、2、3...）×0.0001%或（1、2、3...）×0.0005'，檢定校驗儀的靈敏度。

3.3 檢定校驗儀測阻抗（ΔU/I）回路

檢定標準BHE的開關位置：Ko為Z（測阻抗）、K為1A或5A（工作電流）、Km為ε（讀數×1）、Kb為B（不補償）。檢定線路如圖4所示。

檢定時，將標準的同相盤或正交盤置于校驗儀需要檢定的數值。依次檢定校驗儀測阻抗的同相分量和正交分量。受標準電阻和電容容量的限制，工作電流不應超過1.2A（1A的120%）。

當檢定1~10Ω讀數時，將標準To改接在T₁₀端鈕，同理，BHE百分表讀數不變，儀器擴大量限×10 。這時第一盤的讀數為（1～10）Ω；且輸入被檢校驗儀的工作電流應為BHE的1/10，不超過0.12A。

3.4 檢定校驗儀測導納（ΔI/U）回路

檢定標準BHE的開關位置：Ko為Y（測導納）、K為100V或100/√3V（工作電壓）、Km為ε（讀數×1）、Kb為B（不補償）。檢定線路如圖5所示。

檢定時， 將標準的同相盤和正交盤分別置于校驗儀需要檢定的數值。 依次在20%-120%額定工作電壓下，檢定校驗儀的相應量限的同相分量和正交分量。

當檢定1～10mS時，將標準a改接在a₁₀端鈕，同理，BHE百分表讀數不變，儀器擴大量限×10。這時同相和正交第一盤的讀數均為（1～10）mS，且輸入被檢校驗儀的工作電壓應為BHE的1/10。

4 、檢定PT二次壓降校驗儀

PT二次壓降校驗儀是由電壓互感器校驗儀和100/100V電壓互感器組成的特殊校驗儀，因此對它的檢定，實際上就是檢定電壓互感器校驗儀以及電壓互感器給校驗儀附加的零位誤差。

檢定標準BHE檢定PT二次壓降校驗儀HE的檢定線路如圖6和7所示。

分別在線電壓Un＝100V（圖6）和相電壓Un＝100V/√3（圖7）下進行檢定。圖中HE為二次壓降儀，A、B、C、O為接線路上電壓互感器二次的端鈕，a、b、c、o為接儀表的端鈕。

檢定標準 BHE用測電壓互感器誤差（ΔU/U）回路，Ko為ε_U（電壓互感器誤差）、K為100V（圖6）或100/√3V（圖7）、Km為ε（讀數×1）、Kb為B（不補償）。圖中標準BHE輸出ΔU就是被檢HE的誤差讀數。